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国产化近场EMI分析系统方案

  • 发布时间:2026-08-07 13:05:36

EMI整改最困难的,往往不是测试本身,而是无法快速定位真正的干扰源。
远场EMC测试能够判断产品是否超标,却难以定位具体的辐射来源。近场EMI测试则利用电场(E-Field)和磁场(H-Field)探头,对PCB、芯片、线缆、接口等关键区域进行扫描,将局部电磁场分布直观呈现,帮助研发人员在产品设计阶段完成EMI预兼容分析,提前发现问题、验证整改效果,降低认证风险。
一、为什么研发阶段需要近场EMI测试?

近场测试不仅用于定位EMI问题,更可建立产品EMI数据库。通过不同版本产品的近场数据对比,可快速评估设计优化效果,为产品持续迭代提供可靠依据。
二、一套完整的近场EMI分析链路
针对电子产品研发阶段的EMI定位与整改需求,海洋仪器推出覆盖10 kHz~40 GHz的国产化近场EMI分析系统,实现从信号采集、放大、校准到分析的完整测试链路。
1. 近场探头——精准定位干扰源
提供OI-IC08setOI-IC20setOI-IC40set三大系列近场探头,覆盖10 kHz~40 GHz测试频段,包括电场探头、磁场探头及多种探头套装。
多尺寸磁场探头兼顾大范围扫描与局部精细定位,可快速锁定PCB走线、芯片引脚、电源回路及高速接口等关键区域;电场探头适用于分析接口辐射、电场耦合及高压开关噪声等应用场景。
2.AMP系列低噪声放大器——捕获微弱信号
近场探头输出信号通常较为微弱,为提升系统灵敏度,系统配套OI-AMP系列宽带低噪声放大器,包括AMP1G30AMP3G20AMP6G20AMP18G30AMP40G33等型号,覆盖低频至40GHz应用。
放大器可提供20dB、30dB等多种增益选择,有效提升系统动态范围和信噪比,让更多微弱干扰信号清晰可见。
3. 近场探头校准系统——让测试结果更可靠
近场扫描不仅需要"看得到",更需要"测得准"。
系统配置OI-TPC3AX等标准校准件及探头校准方案,对近场探头进行系数标定。标定后的系统,可以输出可溯源的 dBμV/m 或 dBμA/m 数据,让近场结更具备工程参考价值。
4.国产频谱分析仪——深度适配整套系统
探头负责信号采集,频谱分析仪负责信号分析,两者缺一不可。
系统兼容多款国产频谱分析仪,可根据测试频段、性能需求及预算灵活配置。搭配普尚(PROSUND)SP926B系列、及优利德(UNI-T)UTS3000AUTS7000AUTS3000B等型号,共同构建完整、高效的国产化近场EMI分析平台。
三、适用于哪些应用
该系统适用于高速数字电路、AI服务器、汽车电子、通信设备、电源设计、射频产品及EMC实验室建设等应用场景,可用于PCB调试、EMI预兼容分析、整改验证以及远场测试前的快速筛查,有效提升研发效率,降低暗室测试成本。
 

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