产品简介：

OI-IC08set近场探头套件专为电磁兼容（EMC）整改设计，可精准定位干扰源，频率覆盖30MHz~7.5GHz，包含2个磁场（H）探头和2个电场（E）探头，通过50Ω 电缆 直接连接频谱仪或示波器，操作便捷；除探头外，整体采用高屏蔽设计，有效抑制外部干扰，确保测试准确性，适用于电子设备EMC问题排查、干扰源定位及信号分析，助力高效整改。

主要参数：

订货信息：

OI-IC08set 近场探头套件，频率30MHz～7.5GHz，SMA型输出接口

标准配置：

OI-ICH08-1无源磁场探头1支

OI-ICH08-2无源磁场探头1支

OI-ICE08-1无源电场探头1支

OI-ICE08-2无源电场探头

OI-SMA(M-M)射频连接线一根

OI-Case01便携箱1个

2025-07-24[产品资料]OI-IC08set近场探头套件产品资料

本文是OI-IC08set近场探头套件产品资料，详细描述了OI-IC08set近场探头套件的技术参数等信息。...

2025-07-24[产品资料]OI-IC08set近场探头套件使用手册

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2024-09-11[产品资料]OI-IC40set系列无源近场探头组中文产品资料v202408

OI-IC40set是一款频率高达40GHz，用于测量磁场和电场强度的无源近场探头组。测量头通过特殊的阻尼系统与电缆屏蔽层分离。此外，探头还包含一个电流衰减器；探头具有50Ω的内部匹配网络。...

2024-09-10[操作手册]OI-IC40set系列无源近场探头组使用手册

本文是OI-IC40set系列无源近场探头组使用手册，详细描述了OI-IC40set系列无源近场探头组的使用注意事项和使用方法。...

2022-05-30[应用文章]PRE-EMI测试如何选择合适的近场探头

近场电磁干扰(EMI)测试是电磁兼容性 (EMC) 辐射发射预兼容测试中的一个重要组成。EMI机构使用EMI接收机和经过准确校准的天线来测试3或10米距离上的被测设备(DUT)，这称为远场测量。电磁场的特性主要由被测设备(DUT)以及它与接收机和天线的距离决定。远场辐射发射测量可以准确地告诉我们被测器件是否符合相应的EMC/EMI标准。...

2021-07-16[应用文章]为什么要用近场探头?

近场测量特别适合进行组件和设备开发的工程师使用，他们使用近场测量来获得干扰发射原因的重要数据。近场测量方法得到的信息和这些数据，能定位干扰源，从而采取相应措施以减少电磁干扰。...

2021-07-16[应用文章]EMI故障诊断:近场探头的选择与应用

本应用指南将介绍各种近场探头的特点，并解释了它们在定位、评测可能的发射源以及对其进行故障诊断方面的特殊优势。...

2018-10-18[应用文章]如何使用近场探头测到接近远场测试的数据

近场测试是一种相对量测试，这意味着它需要把被测器件的测试结果与基准器件的测试结果进行比较，以预测被测器件通过一致性测试的可能性。...