4200A-SCS参数分析仪

  • 简介:可同时进行电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V电学测试。4200A-SCS是最高性能的分析仪,可加快用于材料研究、半导体器件设计、工艺开发或生产的复杂器件的测试。
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    产品简介:

    4200A-SCS是一个模块化、可定制、高度一体化的参数分析仪,可同时进行电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V电学测试。使用其可选的4200A-CVIV多通道开关模块,可轻松地在I-V和C-V测量之间切换,而无需重新布线或抬起探针。4200A-SCS是最高性能的分析仪,可加快用于材料研究、半导体器件设计、工艺开发或生产的复杂器件的测试。

    亲眼见证创新!4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V)和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪,4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。4200A-SCS ClariusTM基于GUI的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时可以投入使用的应用测试,Clarius Software可以更深入地挖掘研究过程,快速而又满怀信心。4200A-SCS参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配置,不管是现在还是未来,都可以随时对系统进行升级。通过4200A-SCS参数分析仪,通往发现之路现在变得异常简便。
    功能特点: 

    特点优势
    将源测量单元、C-V 单元和超快脉冲 I-V 单元无缝结合的一体化系统快速、清晰和准确地执行 I-V 特性分析、交流阻抗测量、波形捕获和瞬态 I-V 测量
    Clarius 基于 GUI 的软件,支持触摸或鼠标控制高级测试定义、参数分析、图形绘制和自动化功能,实现清晰、卓越的测量和分析
    内置上下文相关的测量视频和 450 多种应用测试快速启动测试及提供测量帮助和故障排除向导
    I-V 源测量单元 (SMU)±210 V / 100 mA 或 ±210 V / 1 A 模块,100 fA 测量分辨率,以及带可选前放的 0.1 fA 测量分辨率
    C-V 多频率电容单元 (CVU)交流阻抗测量(C-V、C-f、C-t),1 kHz – 10 MHz 频率范围
    I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV)在 I-V 和 C-V 测量之间轻松切换或将 C-V 测量移至任何终端,而无需重新布线或抬起探针
    脉冲式 I-V 超快脉冲测量单元 (PMU)两个独立或同步的高速脉冲式 I-V 源和测量通道;200 MSa/s,5 ns 采样率;利用可选的前放将电流灵敏度扩大到几十皮安
    高电压脉冲发生器单元 (PGU)两通道高速脉冲电压源;±40 V (80 V p-p),±800 mA
    可完全定制和升级现在或以后均可根据需要随时添加模块

    典型应用:

    MOSFET、BJT晶体管

    材料特性分析

    非易失性存储设备

    电阻率系数和霍尔效应测量

    NBTI/PBTI

    III-V 族器件

    失效分析

    纳米器件

    二极管和pn联结

    太阳能电池

    传感器

    MEMS器件

    电化学

    LED和OLED

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