IM3570阻抗分析仪

  • 简介:一台仪器即可实现LCR测量、DCR测量、扫频测量的连续测量和高速测量。测量频率4Hz~5MHz,LCR模式最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)高速测量。
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      一台仪器即可实现LCR测量、DCR测量、扫频测量的连续测量和高速测量

      IM3570阻抗分析仪为测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。可以用交流信号测量LCR、直流信号测量电阻(DCR)、测量频率和电平并且都能在连续和变化的情况下进行扫描测量等。因为能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量,仅用一台IM3570就能取代现在用在生产线上的众多仪器。

    产品优势:

      1、压电元件的共振特性测量

      通过扫频测量,来测得频率和阻抗值,根据峰值的比较功能可判断共振状态是否优良。在LCR模式下,可以测量120Hz到1kHz之间的C值变化。可连续进行扫频测量(阻抗分析)和C值测量均可在这1台仪器上实现。

      2、功能高分子电容的C-D值和低ESR测量

      测量低阻抗的时候反复精度提高一位。例如,在测量条件在1mΩ(1V,100kHz)测量速度为MED的时候反复精度(偏差)*0.12%可放心测量。也适用于100kHz的ESR测量。

      3、电感(线圈,变压器)的DCR和L-Q值测量

      连续测量L、Q值(1kHz,CC1mA)和DCR可以在同一画面上显示数值。对于带磁芯的线圈,由于电感测量值会随测试电流大小而变化,现在的产品可以用恒流CC的方式解决这个问题。与以往产品相比,低电容测量时的反复精度提高了一位,可以更为稳定的测量DCR了。

    产品特点:

      ●一台仪器即可实现LCR测量、DCR测量、扫频测量的连续测量和高速测量

      ●LCR模式最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)高速测量

      ●基本精度±0.08%高精度测量

      ●最适用于压电端子的共振特性检查,功能性高分子电容的D-D和低ESR测量,电感(线圈、变压器)的DCR和L-Q测量等

      ●使用分析模式能够进行扫频测量,电平扫描测量,定时测量

    技术参数:

    测量模式LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
    测量参数Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
    测量量程100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
    显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
    θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
    Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
    基本精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
    测量频率4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
    测量信号电平V模式,CV模式(普通模式)
    50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
    10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
    CC模式(普通模式)
    10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
    10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
    输出阻抗普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
    显示彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
    测量时间0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
    测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2
    其他功能DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
    外部接口EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
    电源AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
    体积和重量330W×119H×307Dmm,5.8kg


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