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高级损耗因子测量技术

  • 发布时间:2019-01-08 16:22:09

  一. 负损耗D问题

  许多用户在使用 LCR 数字电桥或电容测量仪测量小损耗电容器时经常会遇到如下问题:

  为什么使用上述仪表对电容器进行测量时损耗有时会显示负值?

  从物理含义来说损耗表示电容器中耗能成分(即电阻成分)对储能成分所占的比重,而电阻是不可能为负的。

  如对于串联等效方式损耗因子

  对于并联等效方式损耗因子

  以下从几个方面说明产生负损耗的原因,并讨论如何正确使用仪表的方法,以帮助理解和解决此类问题。

  二. 负损耗D产生的原因

  概括起来说,有以下几个方面的原因可能会引起负损耗的产生:

  A. 测试仪表有限的准确度;

  B. 过度的补偿(过度的短路清“0”);

  C. 接触电阻的影响;

  D. 存在于测试电缆和测试端子间的复杂杂散参数。

  A.测试仪表有限的准确度

  任何元件参数测试仪器的准确度均是有限的,由于有限的准确度便会造成测试的不确定性。

  从原理上,电容器的损耗在阻抗平面上可表示为阻抗矢量与虚轴夹角δ 的正切值,图1 所示。

  当电容器以串联等效方式描述时,损耗可以下述公式计算:

QQ截图20190108162252.jpg

  更多资料请下载:高级损耗因子测量技术(D参数).pdf

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